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涂鍍層測厚儀MINITEST 600符合DIN、ISO、BS、ASTM標準。
測量范圍 | F型 0-3000μm |
N型 0-2000μm | |
FN 型 （兩用型） 0-2000μm | |
允許誤差： | ±（2%讀值+2μm） |
zui小曲率半徑： | 5mm（凸）25mm（凹） |
zui小測量面積： | φ20mm |
zui小基體厚度： | 0.5mm（對F型），50μm（對N型） |
顯示： | 4 位數(shù)字（字高11mm） |
測量單位： | μm-mils可選 |
校準方式： | 標準校準、一點校準、二點校準 |
統(tǒng)計數(shù)據(jù)： | 平均值x 、s標準偏差、讀數(shù)個數(shù)n（zui多9.999個）、zui大值max、zui小值min |
接口： | RS-232（不適用于B型） |
電源： | 2節(jié)5號堿電池，至少測量1萬次 |
儀器尺寸： | 64mm× 115mm ×25mm |
測頭尺寸： | φ15mm ×62mm
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涂層測厚儀簡介：
涂層測厚儀采用電磁感應法測量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度。
涂層測厚儀具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（APPL）；
設有五個統(tǒng)計量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、標準偏差（S．DEV）
涂鍍層測厚儀根據(jù)測量原理一般有以下五種類型：
1.磁性測厚法：適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為：鋼，鐵，銀，鎳。此種方法測量精度高。
2.渦流測厚法：適用導電金屬上的非導電層厚度測量。此種較磁性測厚法精度低。
3.超聲波測厚法：適用多層涂鍍層厚度的測量或者是以上兩種方法都無法測量的場合。但一般價格昂貴，測量精度也不高。
4.電解測厚法：此方法有別于以上三種，不屬于無損檢測，需要破壞涂鍍層，一般精度也不高。測量起來比較其他幾種麻煩。
5.放射測厚法：此處儀器價格非常昂貴（一般在10萬RMB以上），適用于一些特殊場合。
